Siの亀裂先端観察

• 坂 公恭

  名古屋大学工学研究科

書誌事項

タイトル別名

• TEM Observations of Crack Tips in Si

収録刊行物

• まてりあ

  まてりあ 37 (12), 990-990, 1998

  公益社団法人 日本金属学会

キーワード

• cracks
• focused ion beam
• transmission electron microscopy
• ductile-brittle transition temperature semiconductor

詳細情報

• CRID: 1390282679056240512
• NII論文ID: 10002546692
• NII書誌ID: AN10433227
• DOI: 10.2320/materia.37.990
• ISSN: 18845843
• ISSN: 13402625
• Web Site: https://www.jstage.jst.go.jp/article/materia1994/37/12/37_12_990/_pdf
• データソース種別:
  • JaLC
  • Crossref
  • CiNii Articles