III. 半導体, セラミックスの欠陥構造 Siの亀裂先端観察 TEM Observations of Crack Tips in Si

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著者

    • Suprijadi
    • 名古屋大学工学研究科 Graduate School of Engineering, Nagoya University

収録刊行物

  • まてりあ : 日本金属学会会報

    まてりあ : 日本金属学会会報 37(12), 990, 1998-12-20

参考文献:  4件中 1-4件 を表示

  • <no title>

    SAKA H.

    Phil. Mag. Lett. 72, 251, 1995

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    SAKA H.

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    坂公恭

    まてりあ 36, 201, 1997

    被引用文献1件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002546692
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10433227
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    13402625
  • データ提供元
    CJP書誌 
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