EPMAを用いた発光X線微細構造(EXEFS)による軽元素の局所構造分析 Local structure an lysis of light elements by the extended X-ray emission fine structure (EXEFS) using anaelectron probe micro analyzer (EPMA)

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著者

    • 河合 潤 KAWAI Jun
    • 京都大学大学院工学研究科 Department of Materials Science and Engineering, Kyoto University
    • 林 好一
    • 京都大学大学院工学研究科 Department of Materials Science and Engineering, Kyoto University

収録刊行物

  • 材料とプロセス : 日本鉄鋼協会講演論文集 = Current advances in materials and processes : report of the ISIJ meeting  

    材料とプロセス : 日本鉄鋼協会講演論文集 = Current advances in materials and processes : report of the ISIJ meeting 11(3), 625, 1998-03-05 

参考文献:  3件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002552361
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10056461
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    09146628
  • データ提供元
    CJP書誌 
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