高分子をみる　最近の透過電子顕微鏡の進歩

• 本田 敏和

  日本電子(株)電子光学 機器技術本部

書誌事項

タイトル別名

• Improvements of Recent Transmission Electron Microscope.
• サイキン ノ トウカ デンシ ケンビキョウ ノ シンポ

抄録

透過電子顕微鏡の分析機能はサブナノ領域の分析が可能なまでに性能が向上している.材料研究では形態観察だけでなく,何が局所領域で起こっているかが関心のもたれるところであり,最近,分析装置として使用されることが多い透過電子顕微鏡の観察例を中心にその進歩について述べる.

収録刊行物

• 高分子

  高分子 46 (4), 242-245, 1997

  公益社団法人 高分子学会

キーワード

• General Chemical Engineering

詳細情報

• CRID: 1390282679057053696
• NII論文ID: 10002559773
• NII書誌ID: AN00084926
• DOI: 10.1295/kobunshi.46.242
• COI: 1:CAS:528:DyaK2sXisVGgt74%3D
• ISSN: 21859825
• ISSN: 04541138
• NDL書誌ID: 4172485
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I4172485
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • NDL
  • Crossref
  • CiNii Articles
• 抄録ライセンスフラグ: 使用不可