X線反射率法による高分子薄膜の構造評価 Structural Evaluation of Polymeric Films by X-ray Reflectivity Method

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収録刊行物

  • 高分子  

    高分子 47(3), (142), 1998-03 

参考文献:  1件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002562114
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00084926
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    SHO
  • ISSN
    04541138
  • データ提供元
    CJP書誌 
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