「光センシング技術による非破壊検査」刊行にあたって

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著者

    • 北川 克一
    • 東レ(株)エレクトロニクス機器開発センター

収録刊行物

  • 非破壊検査  

    非破壊検査 46(7), 465, 1997-07 

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002577195
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00208370
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    OTR
  • ISSN
    03675866
  • データ提供元
    CJP書誌 
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