1996年度の電磁気,浸透およびその他による非破壊試験の展望

• 広島 竜夫

Bibliographic Information

Other Title

• 1996ネンド ノ デンジキ シントウ オヨビ ソノタ ニヨル ヒハカイ シケ

Journal

• 非破壊検査 : Jjournal of the Japanese Society for Non-destructive Inspection / 日本非破壊検査協会 編

  非破壊検査 : Jjournal of the Japanese Society for Non-destructive Inspection / 日本非破壊検査協会 編 46 (8), 548-553, 1997-08

  [東京] : 日本非破壊検査協会

Details

• CRID: 1520290885175831040
• NII Article ID: 10002577482
• NII Book ID: AN00208370
• ISSN: 03675866
• NDL BIB ID: 4265207
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I4265207
• Text Lang: ja
• NDL Source Classification:
  • ZM16(科学技術--科学技術一般--工業材料・材料試験)
• Data Source:
  • NDL
  • CiNii Articles