日本での超微小押込試験装置と薄膜への応用

• 大村 孝仁

• 嶋本 篤

Bibliographic Information

Other Title

• ニホン デ ノ チョウビショウ オシコミ シケン ソウチ ト ハクマク エノ
• 特集 ナノインデンターによる非破壊検査と材料評価
• トクシュウ ナノインデンター ニ ヨル ヒハカイ ケンサ ト ザイリョウ ヒョ

Journal

• 非破壊検査 : Jjournal of the Japanese Society for Non-destructive Inspection / 日本非破壊検査協会 編

  非破壊検査 : Jjournal of the Japanese Society for Non-destructive Inspection / 日本非破壊検査協会 編 47 (6), 364-369, 1998-06

  [東京] : 日本非破壊検査協会

Details

• CRID: 1520009410211322624
• NII Article ID: 10002578673
• NII Book ID: AN00208370
• ISSN: 03675866
• NDL BIB ID: 4484429
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I4484429
• Text Lang: ja
• NDL Source Classification:
  • ZM16(科学技術--科学技術一般--工業材料・材料試験)
• Data Source:
  • NDL
  • CiNii Articles