画像処理によるX線フィルムの溶接欠陥鮮明化に及ぼす撮影条件の影響 Effect of photograph condition of weld defect detection from X-ray film by using Image processing

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著者

収録刊行物

  • 大会講演概要集

    大会講演概要集 1996(1), 249-252, 1996-03-25

参考文献:  3件中 1-3件 を表示

  • <no title>

    大上

    QuarTech (21), 12, 1993

    被引用文献1件

  • <no title>

    加藤

    非破壊検査 41(4), 186, 1992

    被引用文献1件

  • <no title>

    石井

    非破壊検査 42(4), 199, 1993

    被引用文献1件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002581035
  • NII書誌ID(NCID)
    AA11592632
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    OTR
  • データ提供元
    CJP書誌 
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