X-Ray Stress Measurement of Coarse Grained Polycrystaline Materials using Imaging Plate

• 佐々木 敏彦

  金沢大学

• 廣瀬 幸雄

  金沢大学

• 安川 昇一

  金沢大学(院)

Bibliographic Information

Other Title

• イメージングプレートを用いた粗大結晶粒材料の応力解析

Journal

• 大会講演概要集

  大会講演概要集 1996 (2), 65-68, 1996-10-01

Keywords

• X線応力測定法
• IP
• 粗大結晶粒
• 試料平面揺動
• cos α法

Details

• CRID: 1573105973904039936
• NII Article ID: 10002581170
• NII Book ID: AA11592632
• Text Lang: ja
• Data Source:
  • CiNii Articles