後方散乱X線イメージング検査法に関する基礎的研究 後方散乱X線線量率の簡易算出法 Study on back scattered x-ray imaging method

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収録刊行物

  • 大会講演概要集  

    大会講演概要集 1996(2), 145-148, 1996-10-01 

参考文献:  2件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002581253
  • NII書誌ID(NCID)
    AA11592632
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    OTR
  • データ提供元
    CJP書誌 
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