Study on back scattered x-ray imaging method

• 平山 一男

  大阪産業大学工学部

• 横田 成昭

  大阪産業大学工学部

• 橋本 健二

  大阪産業大学工学部

• 橋爪 隆之

  大阪産業大学工学部

Bibliographic Information

Other Title

• 後方散乱X線イメージング検査法に関する基礎的研究 後方散乱X線線量率の簡易算出法

Journal

• 大会講演概要集

  大会講演概要集 1996 (2), 145-148, 1996-10-01

Keywords

• 計算機利用
• 蛍光X線
• 散乱
• 放射線撮影法
• 連続スペクトル

Details

• CRID: 1573950398834075776
• NII Article ID: 10002581253
• NII Book ID: AA11592632
• Text Lang: ja
• Data Source:
  • CiNii Articles