Improvement of Scanning Acoustic Microscope for Curved Surface Specimen to Measure the Wide Range Images

• 鈴木 学

  東北大学工学部

• 三原 毅

  東北大学工学部

• 伊達 和博

  東北大学工学部

• 原園 顕

  関西電力 (株)

• 生野 健

  関西電力 (株)

• 村井 純一

  日本クラウトクレーマー (株)

Bibliographic Information

Other Title

• 広範囲音響像測定のための曲面試料用超音波顕微鏡システムの改良

Journal

• 大会講演概要集

  大会講演概要集 1996 (2), 235-238, 1996-10-01

Keywords

• 非破壊検査
• 表面きず
• 損傷評価
• 超音波顕微鏡

Details

• CRID: 1571980073997161344
• NII Article ID: 10002581340
• NII Book ID: AA11592632
• Text Lang: ja
• Data Source:
  • CiNii Articles