走査型トンネル/原子間力複合顕微鏡を用いた純銅の酸化膜厚測定法
書誌事項
- タイトル別名
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- Thickness Measurement of Oxidation Films on Pure Copper by an STM/AFM Hybrid System
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収録刊行物
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- 大会講演概要集
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大会講演概要集 1996 (2), 383-388, 1996-10-01
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詳細情報
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- CRID
- 1571135649067193216
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- NII論文ID
- 10002581464
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- NII書誌ID
- AA11592632
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- CiNii Articles