Phased Array Immersion UT Technique for Inspection of BWR Internal Component

• 古村 一朗

  (株)東芝 重電技術研究所

• 長井 敏

  (株)東芝 重電技術研究所

• 高林 順一

  京浜事業所

Bibliographic Information

Other Title

• 水浸電子スキャンUT法による炉内機器探傷技術

Journal

• 大会講演概要集

  大会講演概要集 1997 (2), 17-20, 1997-11-13

Keywords

• 電子走査型超音波探傷法
• アレイ探触子
• 水浸探傷
• Bスコープ
• 欠陥検出

Details

• CRID: 1572261548974033792
• NII Article ID: 10002581495
• NII Book ID: AA11592632
• Text Lang: ja
• Data Source:
  • CiNii Articles