試験体の表面が粗い場合の超音波探触子の等価回路を用いた多重エコーの解析

• 木村 友則

  三菱電機(株)

• 亀山 俊平

  三菱電機(株)

• 和高 修三

  三菱電機(株)

書誌事項

タイトル別名

• Analysis of a multiple echo using an equivalent circuit of an ultrasonic transducer in the case of a test object with a rough surface

収録刊行物

• 大会講演概要集

  大会講演概要集 1997 (2), 137-140, 1997-11-13

キーワード

• 超音波探傷試験
• 表面粗さ
• 超音波探触子
• 等価回路
• 多重エコー

詳細情報

• CRID: 1573387448880881024
• NII論文ID: 10002581633
• NII書誌ID: AA11592632
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • CiNii Articles