交流漏洩磁束探傷試験法における漏洩磁束の磁化周波数依存性 Dependence of Magnetic Flux Leakage due to Magnetization Frequency on Magnetic Flux Leakage Testing

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著者

    • 植竹 一蔵
    • 金属材料技術研究所 フロンティア構造材料研究センター
    • 山脇 寿
    • 金属材料技術研究所 フロンティア構造材料研究センター

収録刊行物

  • 大会講演概要集  

    大会講演概要集 1997(2), 197-200, 1997-11-13 

参考文献:  4件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002581715
  • NII書誌ID(NCID)
    AA11592632
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    OTR
  • データ提供元
    CJP書誌 
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