マイクロ波イメージングによる誘電体材料内部の欠陥の非破壊評価 Nondestructive evaluation of the defects in dielectric materials by microwave imaging

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収録刊行物

  • 大会講演概要集  

    大会講演概要集 1999(1), 201-204, 1999-05-26 

参考文献:  5件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002582272
  • NII書誌ID(NCID)
    AA11592632
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    OTR
  • データ提供元
    CJP書誌 
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