2. 吸収端近傍のX線を使って─(2)特定の元素に着目して─ 局所構造をDAFSで捉える Study of Local Structure by DAFS

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著者

    • 水木 純一郎 MIZUKI Jun'ichiro
    • 日本原子力研究所大型放射光開発利用研究部 Department of Synchrotron Radiation Facilities Project, Kansai Research Establishment, JAERI

抄録

We will describe a rather new X-ray structural technique, Diffraction Anomalous Fine Structure (DAFS), in which the Bragg diffraction intensities of a fixed momentum transfer is measured as a function of the incident X-ray energy. This technique can provide the same short-range structural information as XAFS.<BR>Because DAFS combines the capabilities of diffraction and XAFS into a single technique, it has two enhanced sensitivities compared to the separate technique. These are "spatial selectivity" and " site selectivity". In this chapter semiconductor interface structure study as an example for spatial selectivity and structural study of high Tc superconductor as an example for site selectivity will be shown.

収録刊行物

  • 日本結晶学会誌  

    日本結晶学会誌 39(1), 31-36, 1997-02-28 

    The Crystallographic Society of Japan

参考文献:  10件

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被引用文献:  1件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002589080
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00188364
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    03694585
  • NDL 記事登録ID
    4159563
  • NDL 雑誌分類
    ZM46(科学技術--地球科学--岩石・鉱物・鉱床)
  • NDL 請求記号
    Z15-138
  • データ提供元
    CJP書誌  CJP引用  NDL  J-STAGE 
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