3. 微少量・高精度・極限に迫る 表面構造をX線回折で調べる X-Ray Diffraction Study on Crystal Surfaces

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抄録

The structure of crystal surfaces is studied by X-Ray diffraction. The Si (111) √3×√3-Bi structure was analyzed in terms of reflectivity, and the coverage-dependent structures were unambiguously distinguished. The structure of the dimer in Si (001) 2×1 was determined.

収録刊行物

  • 日本結晶学会誌

    日本結晶学会誌 39(1), 94-98, 1997-02-28

    The Crystallographic Society of Japan

参考文献:  28件中 1-28件 を表示

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002589322
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00188364
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    03694585
  • NDL 記事登録ID
    4159575
  • NDL 雑誌分類
    ZM46(科学技術--地球科学--岩石・鉱物・鉱床)
  • NDL 請求記号
    Z15-138
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL  J-STAGE 
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