放射光Ｘ線結晶学で今何ができるか？　微少量・高精度・極限に迫る　表面構造をＸ線回折で調べる

• 高橋 敏男

  東京大学物性研究所先端分光研究部門

書誌事項

タイトル別名

• Frontiers in Crystallography with Synchrotron Radiation. Utilizing of Various Properties of Synchrotron Radiation. X-Ray Diffraction Study on Crystal Surfaces.
• ヒョウメン コウゾウ オ Xセン カイセツ デ シラベル

抄録

The structure of crystal surfaces is studied by X-Ray diffraction. The Si (111) √3×√3-Bi structure was analyzed in terms of reflectivity, and the coverage-dependent structures were unambiguously distinguished. The structure of the dimer in Si (001) 2×1 was determined.

収録刊行物

• 日本結晶学会誌

  日本結晶学会誌 39 (1), 94-98, 1997

  日本結晶学会

詳細情報

• CRID: 1390282679064160896
• NII論文ID: 10002589322
• NII書誌ID: AN00188364
• DOI: 10.5940/jcrsj.39.94
• ISSN: 18845576
• ISSN: 03694585
• NDL書誌ID: 4159575
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I4159575
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • NDL
  • Crossref
  • CiNii Articles
• 抄録ライセンスフラグ: 使用不可