3. 微少量・高精度・極限に迫る GaAs単結晶の格子間隔の高精度測定 High Precision Lattice Spacing Measurement of GaAs Single Crystals

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著者

抄録

Characterization by high precision lattice spacing measurement using synchrotron radiation is reviewed, Relationship between lattice spaciing and residual strain, dislocation density, composition of raw material and cell structures are given.

収録刊行物

  • 日本結晶学会誌  

    日本結晶学会誌 39(1), 99-104, 1997-02-28 

    The Crystallographic Society of Japan

参考文献:  13件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002589351
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00188364
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    03694585
  • NDL 記事登録ID
    4159576
  • NDL 雑誌分類
    ZM46(科学技術--地球科学--岩石・鉱物・鉱床)
  • NDL 請求記号
    Z15-138
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL  J-STAGE 
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