これから電子顕微鏡を始める人へ(1)始めて見る電子顕微鏡 Introduction to Transmission Electron Microscopy for Beginners

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著者

抄録

This article is the first introduction to transmission electron microscopy (TEM) for beginners interested in the crystal structure analysis by means of electron diffraction and highresolution electron microscopy. Brief history of TEM, basic arrangements of TEM instruments, how to obtain selected area electron diffraction patterns, and how to prepare specimen by "crushing method", are described.

収録刊行物

  • 日本結晶学会誌  

    日本結晶学会誌 39(2), 157-167, 1997-04-28 

    The Crystallographic Society of Japan

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002589526
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00188364
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    OTR
  • ISSN
    03694585
  • NDL 記事登録ID
    4203625
  • NDL 雑誌分類
    ZM46(科学技術--地球科学--岩石・鉱物・鉱床)
  • NDL 請求記号
    Z15-138
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL  J-STAGE 
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