これから電子顕微鏡を始める人へ(3)電子回折図形を見てみよう Fundamental Analyses of Electron Diffraction Patterns

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著者

抄録

This article gives fundamentals of analyzing electron diffraction patterns for persons who start to use an transmission electron microscope.

収録刊行物

  • 日本結晶学会誌  

    日本結晶学会誌 39(4), 279-288, 1997-08-28 

    The Crystallographic Society of Japan

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002589774
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00188364
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    03694585
  • NDL 記事登録ID
    4292558
  • NDL 雑誌分類
    ZM46(科学技術--地球科学--岩石・鉱物・鉱床)
  • NDL 請求記号
    Z15-138
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL  J-STAGE 
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