これから電子顕微鏡を始める人へ(5)高分解能電子顕微鏡法 1 - 基礎理論 - Fundamentals of high resolution electron microscopy

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著者

    • 田中 信夫 TANAKA Nobuo
    • 名古屋大学 工学研究科 Department of Applied physies, Graduate School of Engineering, Nagoya University

抄録

Basic theory of high-resolution electron microscopy is described in view point of lattice images and structure images of crystalline samples. Image formation process, factors determining the resolution, contrast transfer functions, dynamical diffraction effect and relativistic effect are explained in detail.

収録刊行物

  • 日本結晶学会誌

    日本結晶学会誌 39(6), 393-407, 1997-12-31

    The Crystallographic Society of Japan

参考文献:  9件中 1-9件 を表示

  • <no title>

    堀内繁雄

    高分解能電子顕微鏡の基礎, 1981

    被引用文献1件

  • <no title>

    上田良二

    電子顕微鏡, 1882

    被引用文献1件

  • <no title>

    REIMER L.

    Transmission Electron Microscopy, 1984

    被引用文献4件

  • <no title>

    WILLIAMS D. B.

    Transmission electron microscopy, 1996

    被引用文献24件

  • <no title>

    村田和美

    光学, 1979

    被引用文献10件

  • <no title>

    COWLEY J. M.

    Diffraction Physics

    被引用文献1件

  • <no title>

    平林真

    回折結晶学, 1980

    被引用文献1件

  • <no title>

    加藤範夫

    回折と散乱, 1978

    被引用文献7件

  • <no title>

    三宅静雄

    電子回折, 電子分光, 1991

    被引用文献3件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002590018
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00188364
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    03694585
  • NDL 記事登録ID
    4390634
  • NDL 雑誌分類
    ZM46(科学技術--地球科学--岩石・鉱物・鉱床)
  • NDL 請求記号
    Z15-138
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL  J-STAGE 
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