これから電子顕微鏡を始める人へ(5)高分解能電子顕微鏡法 1 - 基礎理論 - Fundamentals of high resolution electron microscopy

この論文にアクセスする

この論文をさがす

著者

    • 田中 信夫 TANAKA Nobuo
    • 名古屋大学 工学研究科 Department of Applied physies, Graduate School of Engineering, Nagoya University

抄録

Basic theory of high-resolution electron microscopy is described in view point of lattice images and structure images of crystalline samples. Image formation process, factors determining the resolution, contrast transfer functions, dynamical diffraction effect and relativistic effect are explained in detail.

収録刊行物

  • 日本結晶学会誌  

    日本結晶学会誌 39(6), 393-407, 1997-12-31 

    The Crystallographic Society of Japan

参考文献:  9件

参考文献を見るにはログインが必要です。ユーザIDをお持ちでない方は新規登録してください。

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002590018
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00188364
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    03694585
  • NDL 記事登録ID
    4390634
  • NDL 雑誌分類
    ZM46(科学技術--地球科学--岩石・鉱物・鉱床)
  • NDL 請求記号
    Z15-138
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL  J-STAGE 
ページトップへ