これから電子顕微鏡を始める人へ(7) 高分解能電子顕微鏡法とシミュレーション (ディジタルデータに挑戦しよう) High-Resolution Electron Microscopy and Simulation

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抄録

First, constitution of a simulation program for high-resolution electron microscopy is outlined. In order to record high-resolution images accurately, (S/N) and DQE (detective quantum efficiency) characteristics for new recording materials like the imaging plate are presented. It is shown that digital data of high-resolution microscope images appropriately recorded on the imaging plate can quantitatively be analyzed through image simulation with a residual index. Finally, quantitative high-resolution microscopy with a residual index is briefly discussed by comparing with the X-ray and neutron diffraction analysis with the so-called R-factor.

収録刊行物

  • 日本結晶学会誌  

    日本結晶学会誌 40(2), 153-160, 1998-04-28 

    The Crystallographic Society of Japan

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被引用文献:  1件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002590595
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00188364
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    OTR
  • ISSN
    03694585
  • NDL 記事登録ID
    4469100
  • NDL 雑誌分類
    ZM46(科学技術--地球科学--岩石・鉱物・鉱床)
  • NDL 請求記号
    Z15-138
  • データ提供元
    CJP書誌  CJP引用  NDL  J-STAGE 
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