X線非弾性散乱の新展開 Recent Developments of Inelastic X-ray Scattering Spectroscopy

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抄録

Advances in synchrotron radiation sources have opened up a new frontier of inelastic X-ray scattering (IXS) spectroscopy. The IXS measurements with a resolution much better than a few eV are now becoming feasible. Such experiments can be used to study various properties of condensed systems: e.g., electron correlations in the ground state (Compton-Raman scattering), eV and sub-eV electronic excitations (X-ray Raman scattering and small-angle IXS), and meV phonon excitations (ultra-high resolution IXS) .

収録刊行物

  • 日本結晶学会誌  

    日本結晶学会誌 40(2), 177-184, 1998-04-28 

    The Crystallographic Society of Japan

参考文献:  50件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002590627
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00188364
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    03694585
  • NDL 記事登録ID
    4469102
  • NDL 雑誌分類
    ZM46(科学技術--地球科学--岩石・鉱物・鉱床)
  • NDL 請求記号
    Z15-138
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL  J-STAGE 
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