高分解能電子顕微鏡像の計算機シミュレーションの標準化-1 -マルチスライス法による回折振幅の計算- Standardization of the Computer Simulation of High-Resolution Transmission Electron Microscope Image-1 -Calculation of Diffraction Amplitudes by the Multi-Slice Method-

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収録刊行物

  • 電子顕微鏡  

    電子顕微鏡 29(2), 141-143, 1994-11-30 

    日本電子顕微鏡学会

参考文献:  2件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002640300
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00145000
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    SHO
  • ISSN
    04170326
  • NDL 記事登録ID
    3904982
  • NDL 刊行物分類
    ND62(電子工学--電子応用機器--電子顕微鏡)
  • NDL 雑誌分類
    ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • NDL 請求記号
    Z16-896
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
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