画像処理による超高分解能化の可能性 -斜め照射複数方位像合成手法を中心に- Feasibility to Super Resolution Electron Microscopy by Image Processing -Tilt-Azimuth Series Reconstruction-

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著者

収録刊行物

  • 電子顕微鏡  

    電子顕微鏡 30(3), 229-236, 1996-03-31 

    日本電子顕微鏡学会

参考文献:  18件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002640400
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00145000
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    04170326
  • NDL 記事登録ID
    3947233
  • NDL 雑誌分類
    ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • NDL 請求記号
    Z16-896
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
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