〔日本電子顕微鏡学会〕先端材料解析研究部会・成果報告 イオンミリング技法とウルトラミクロトーム(超薄切片)技法のラウンドロビンテスト--工業材料における電顕観察用薄膜作製技術の標準化

• 朝倉 健太郎

• 堀内 繁雄

• 広畑 泰久

Bibliographic Information

Other Title

• ニホン デンシ ケンビキョウ ガッカイ センタン ザイリョウ カイセキ ケンキ

Journal

• 電子顕微鏡 / 「電子顕微鏡」編集委員会 編

  電子顕微鏡 / 「電子顕微鏡」編集委員会 編 32 (1), 52-55, 1997-03

  東京 : 日本顕微鏡学会

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• CRID: 1520009410269761024
• NII Article ID: 10002641233
• NII Book ID: AN00153086
• ISSN: 04170326
• NDL BIB ID: 4193665
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I4193665
• Text Lang: ja
• NDL Source Classification:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• Data Source:
  • NDL
  • CiNii Articles