高分子材料のTEM観察法

• 佐野 博成

• 甲本 忠史

書誌事項

タイトル別名

• コウブンシ ザイリョウ ノ TEM カンサツホウ

収録刊行物

• 電子顕微鏡 / 「電子顕微鏡」編集委員会 編

  電子顕微鏡 / 「電子顕微鏡」編集委員会 編 32 (2), 71-76, 1997-07

  東京 : 日本顕微鏡学会

詳細情報

• CRID: 1520572360263691904
• NII論文ID: 10002641265
• NII書誌ID: AN00153086
• ISSN: 04170326
• NDL書誌ID: 4275341
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I4275341
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles