第14回タイ国電子顕微鏡学会総会に参加して The 14th Annual Meeting of Electron Microscopy in Thailand

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収録刊行物

  • 電子顕微鏡  

    電子顕微鏡 32(2), 118-120, 1997-07-31 

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002641433
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00145000
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    NOT
  • ISSN
    04170326
  • データ提供元
    CJP書誌 
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