超高真空非接触モード原子間力顕微鏡の新展開 Opening of ultrahigh vacuum non-contact mode atomic force microscopy

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収録刊行物

  • 電子顕微鏡

    電子顕微鏡 33(1), 22-26, 1998-03-31

    日本電子顕微鏡学会

参考文献:  13件中 1-13件 を表示

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    BINNIG G.

    Phys. Rev. Lett. 56, 930, 1986

    被引用文献152件

  • <no title>

    ABRAHAM F. F.

    Sur. Sci. 209, L125, 1989

    被引用文献3件

  • <no title>

    UEYAMA H.

    Jpn. J. Appl. Phys. 34, L1086, 1995

    被引用文献22件

  • <no title>

    SUGAWARA Y.

    Science 270, 1646, 1995

    被引用文献32件

  • <no title>

    ALBRECHT T. R.

    J. Appl. Phys. 69, 668, 1991

    被引用文献57件

  • <no title>

    OHTA M.

    J. Vac. Sci. Technol. B12, 1705, 1994

    被引用文献11件

  • <no title>

    UCHIHASHI T.

    Phys. Rev. B 56, 9834, 1997

    被引用文献11件

  • <no title>

    BROMMER K. D.

    Phys. Rev. Lett. 68, 1355, 1992

    被引用文献15件

  • <no title>

    STICH I.

    Phys. Rev. Lett. 74, 4491, 1995

    被引用文献3件

  • <no title>

    STICH I.

    Phys. Rev. Lett. 68, 1351, 1992

    被引用文献11件

  • <no title>

    BROMMER K. D.

    Sur. Sci. 314, 57, 1994

    被引用文献2件

  • <no title>

    AVOURIS Ph.

    J. Vac. Sci. Technol. B9, 2124, 1991

    被引用文献1件

  • <no title>

    SUGAWARA Y.

    Appl. Surf. Sci. 113/114, 364, 1997

    DOI 被引用文献6件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002641694
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00145000
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    04170326
  • NDL 記事登録ID
    4458798
  • NDL 雑誌分類
    ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • NDL 請求記号
    Z16-896
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
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