超高真空SEMによる表面現象のその場観察

• 本間 芳和

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• チョウ コウ シンクウ SEM ニヨル ヒョウメン ゲンショウ ノ ソノバ カ

Journal

• 電子顕微鏡 / 「電子顕微鏡」編集委員会 編

  電子顕微鏡 / 「電子顕微鏡」編集委員会 編 33 (2), 82-86, 1998-07

  東京 : 日本顕微鏡学会

Details

• CRID: 1520572360240451200
• NII Article ID: 10002641890
• NII Book ID: AN00153086
• ISSN: 04170326
• NDL BIB ID: 4535025
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I4535025
• Text Lang: ja
• NDL Source Classification:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• Data Source:
  • NDL
  • CiNii Articles