日本-スイス合同セミナーと日本-ポーランド合同セミナー Japanese-Swiss Joint Seminar on Electron Microscopies in Materials Science and Japanese-Polish Joint Seminar on Materials Analysis

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著者

収録刊行物

  • 電子顕微鏡  

    電子顕微鏡 33(2), 135-137, 1998-07-31 

    日本電子顕微鏡学会

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002642108
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00145000
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    SHO
  • ISSN
    04170326
  • NDL 記事登録ID
    4535037
  • NDL 雑誌分類
    ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • NDL 請求記号
    Z16-896
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
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