収束電子回折法の発展-精密構造解析 High-precision structure refinement by the convergent-beam electron diffraction

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著者

収録刊行物

  • 電子顕微鏡  

    電子顕微鏡 33(3), 142-150, 1998-11-30 

    The Japanese Society of Microscopy

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被引用文献:  1件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002642112
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00145000
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    04170326
  • NDL 記事登録ID
    4624347
  • NDL 雑誌分類
    ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • NDL 請求記号
    Z16-896
  • データ提供元
    CJP書誌  CJP引用  NDL  J-STAGE 
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