収束電子回折法の発展-精密構造解析 High-precision structure refinement by the convergent-beam electron diffraction

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  • 電子顕微鏡

    電子顕微鏡 33(3), 142-150, 1998-11-30

    The Japanese Society of Microscopy

参考文献:  16件中 1-16件 を表示

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    田中通義

    固体物理 19, 260, 1984

    被引用文献2件

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    田中通義

    日本結晶学会誌 26, 309, 1984

    被引用文献3件

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    TANAKA M.

    Convergent-beam electron diffraction, 1985

    被引用文献9件

  • <no title>

    TANAKA M.

    Covergent-Beam Electron Diffraction II, 1988

    被引用文献1件

  • <no title>

    TANAKA M.

    J. Electron Microsc. 29, 408, 1980

    被引用文献5件

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    TANAKA M.

    Convergent-Beam Electron Diffraction III, 1994

    被引用文献2件

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    VINCENT R.

    Phil. Mag. A50, 745, 1984

    被引用文献1件

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    VINCENT R.

    Phil. Mag. A50, 765, 1984

    被引用文献1件

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    BIRD D. M.

    Acta Cryst. A48, 555, 1992

    被引用文献1件

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    TSUDA K.

    Acta Cryst A51, 7, 1995

    被引用文献2件

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    ROSSOUW C. J.

    Phil. Mag. A73, 187, 1996

    被引用文献1件

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    TANAKA M.

    Proc. Microbeam Analysis 145, 1991

    被引用文献1件

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    TSUNO K.

    J. Electron Microsc. 46, 357, 1997

    被引用文献6件

  • <no title>

    津田健治

    日本結晶学会誌 36, 246, 1994

    被引用文献2件

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    田中通義

    平成6-9年度科学研究費補助金(特別推進研究(2))研究成果報告書

    被引用文献1件

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    STEVENSON A. W.

    Acta Cryst. B40, 521, 1984

    被引用文献1件

被引用文献:  1件中 1-1件 を表示

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002642112
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00145000
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    04170326
  • NDL 記事登録ID
    4624347
  • NDL 雑誌分類
    ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • NDL 請求記号
    Z16-896
  • データ提供元
    CJP書誌  CJP引用  NDL  J-STAGE 
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