分析電子顕微鏡の拡散対研究への応用

• 堀田 善治

  九州大学工学部物質科学工学科材料工学教室

書誌事項

タイトル別名

• Diffusion-couple study using analytical electron microscopy.
• ブンセキ デンシ ケンビキョウ ノ カクサンツイ ケンキュウ エ ノ オウヨウ

収録刊行物

• 電子顕微鏡

  電子顕微鏡 34 (1), 7-12, 1999

  公益社団法人　日本顕微鏡学会

キーワード

• エネルギー分散型X線分光
• 比例法
• 吸収補正
• 膜厚測定
• 相互拡散

詳細情報

• CRID: 1390001204734025984
• NII論文ID: 10002642330
• NII書誌ID: AN00153086
• DOI: 10.11410/kenbikyo1950.34.7
• NDL書誌ID: 4693874
• ISSN: 04170326
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I4693874
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • NDL
  • CiNii Articles