Diffusion-couple study using analytical electron microscopy.

• Horita Zenji

  九州大学工学部物質科学工学科材料工学教室

Bibliographic Information

Other Title

• 分析電子顕微鏡の拡散対研究への応用
• ブンセキ デンシ ケンビキョウ ノ カクサンツイ ケンキュウ エ ノ オウヨウ

Journal

• Denshi kenbikyo

  Denshi kenbikyo 34 (1), 7-12, 1999

  The Japanese Society of Microscopy

Keywords

• エネルギー分散型X線分光
• 比例法
• 吸収補正
• 膜厚測定
• 相互拡散

Details

• CRID: 1390001204734025984
• NII Article ID: 10002642330
• NII Book ID: AN00153086
• DOI: 10.11410/kenbikyo1950.34.7
• NDL BIB ID: 4693874
• ISSN: 04170326
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I4693874
• Text Lang: ja
• Data Source:
  • JaLC
  • NDL
  • CiNii Articles