マイクロフォーカスX線による内部検査技術 Non-Destruction Inspection Technology by a Micro-Focus X-ray System

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著者

    • 深町 哲昭 FUKAMACHI Tetsuaki
    • 日立電子株式会社応用機器センター応用機器部情報処理グループ Advanced Electronics Engineering Dept., Hitachi Denshi Ltd.

収録刊行物

  • 回路実装学会誌

    回路実装学会誌 11(3), 181-188, 1996-05-20

参考文献:  7件中 1-7件 を表示

被引用文献:  2件中 1-2件 を表示

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002644866
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10564349
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    NOT
  • ISSN
    13410571
  • データ提供元
    CJP書誌  CJP引用 
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