マイクロフォーカスX線による内部検査技術

• 深町 哲昭

  日立電子株式会社応用機器センター応用機器部情報処理グループ

書誌事項

タイトル別名

• Non-Destruction Inspection Technology by a Micro-Focus X-ray System

収録刊行物

• 回路実装学会誌

  回路実装学会誌 11 (3), 181-188, 1996-05-20

詳細情報

• CRID: 1574231873810364288
• NII論文ID: 10002644866
• NII書誌ID: AN10564349
• ISSN: 13410571
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • CiNii Articles