MRヘッド膜の腐食評価, 寿命推定

• 斎藤 美紀子

  NEC 機能エレクトロニクス研究所

• 松村 邦彦

  NEC 機能エレクトロニクス研究所

• 山田 一彦

  NEC 機能エレクトロニクス研究所

書誌事項

タイトル別名

• The Corrosion Evaluation and the Life-time Esitimation of Exchange-Biasing Films For MR-Heads

収録刊行物

• 日本応用磁気学会学術講演概要集 = Digest of ... annual conference on magnetics in Japan

  日本応用磁気学会学術講演概要集 = Digest of ... annual conference on magnetics in Japan 19 227-, 1995-09-01

詳細情報

• CRID: 1570572699113020928
• NII論文ID: 10002646509
• NII書誌ID: AN10269644
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • CiNii Articles