端部の欠陥が軟磁性薄膜の磁化過程に及ぼす影響

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タイトル別名
  • Micromagnetics of soft magnetic thin film with defect

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1570009749159671040
  • NII論文ID
    10002647233
  • NII書誌ID
    AN10269644
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • CiNii Articles

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