AVNIR による地表面の特性化を伴う OCTS の代替校正手法 Vicarious calibration for OCTS with a characterization of surface reflectance with AVNIR

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収録刊行物

  • 学術講演会論文集 = Proceedings of the ... Japanese Conference on Remote Sensing  

    学術講演会論文集 = Proceedings of the ... Japanese Conference on Remote Sensing 24, 193-194, 1998-05-01 

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002648890
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10370105
  • 本文言語コード
    ENG
  • 資料種別
    OTR
  • ISSN
    09163611
  • データ提供元
    CJP書誌 
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