逐次棄却法PIV解析の精度向上に関する検討 Study on Sub-Pixel PIV Using Successive Abandonment Method

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抄録

In order to improve the measurement accuracy of the successive abandonment method, three sub-pixel analysis methods are examined about their precision and analysis time. Among them, the weighted average method has the lowest precision. And two others, a reflection point method and a shifted template method, have similar precision. Measurement precision is examined by rotating and shifting a solid pattern. As for analysis time, so far, the former method seems to be faster than the latter.

収録刊行物

  • 可視化情報学会誌 = Journal of the Visualization Society of Japan  

    可視化情報学会誌 = Journal of the Visualization Society of Japan 18, 63-66, 1998-07-01 

    The Visualization Society of Japan

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被引用文献:  1件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002675530
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10374478
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    09164731
  • NDL 記事登録ID
    4511010
  • NDL 雑誌分類
    ZM35(科学技術--物理学)
  • NDL 請求記号
    Z15-431
  • データ提供元
    CJP書誌  CJP引用  NDL  J-STAGE 
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