WC-Co溶射皮膜のRieveld分析と残留応力測定 Rietveld Analysis and Residual Stresses Measurement of WC-Co Coatings

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収録刊行物

  • 全国講演大会講演論文集  

    全国講演大会講演論文集 64, 39-40, 1996-10-15 

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002688072
  • NII書誌ID(NCID)
    AA11461805
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • データ提供元
    CJP書誌 
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