CuKβ-X線反射率法による薄膜積層体の層構造解析 Layered structure analysis of multilayers by X-ray reflectometry using CuKβ line

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  • 日本応用磁気学会学術講演概要集 = Digest of ... annual conference on magnetics in Japan

    日本応用磁気学会学術講演概要集 = Digest of ... annual conference on magnetics in Japan 20, 51, 1996-09-01

参考文献:  5件中 1-5件 を表示

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    Huang T.C.

    Appl. Phys. Lett 60, 1573, 1992

    被引用文献8件

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    MINVIELLE T. J.

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    HUANG T. C.

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    被引用文献2件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002728889
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10269644
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    OTR
  • データ提供元
    CJP書誌 
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