X線反射率と蛍光X線測定による金属多層膜構造解析 Layered structure analysis of multilayers by use of X-ray reflectometory and X-ray fluorescence analysis

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収録刊行物

  • 日本応用磁気学会学術講演概要集 = Digest of ... annual conference on magnetics in Japan  

    日本応用磁気学会学術講演概要集 = Digest of ... annual conference on magnetics in Japan 21, 432, 1997-10-01 

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002730949
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10269644
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    OTR
  • データ提供元
    CJP書誌 
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