カプラ校正法におけるマイクロホン間電圧減衰量の測定誤差の要因(第2報) -マイクロホンの静電容量の安定性との関係について-

• 堀内 竜三

  電総研

• 藤森 威

  電総研

• 佐藤 宗純

  電総研

書誌事項

タイトル別名

• Causes of measurement error of voltage attenuation between two standard condenser microphones on coupler calibration system Part2 : On relation between voltage attenuation and capacitance

収録刊行物

• 日本音響学会研究発表会講演論文集

  日本音響学会研究発表会講演論文集 1998 (1), 595-596, 1998-03-01

詳細情報

• CRID: 1573950398835228928
• NII論文ID: 10002747271
• NII書誌ID: AN00351181
• ISSN: 13403168
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • CiNii Articles