ニューラルネットワークを用いた表面欠陥の検出に関する研究
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- CHEN Wei
- Saitama University
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- WATANUKI Keiichi
- Saitama University
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- OHTAKI Hideyuki
- Saitama University
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Journal
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- 社団法人日本設計工学会研究発表講演会講演論文集
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社団法人日本設計工学会研究発表講演会講演論文集 1996 (1), 1-4, 1996-05-25
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1571980073982923264
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- NII Article ID
- 10002801960
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- NII Book ID
- AA1158965X
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- Text Lang
- ja
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- Data Source
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- CiNii Articles