多重原子群モデルによる誘電体境界面におけるX線散乱のBEM解析 BEM Analysis of X-ray Scattering due to Dielectric Boundary Surface of Multiple Atoms Model

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収録刊行物

  • 電気学会論文誌. C, 電子・情報・システム部門誌 = The transactions of the Institute of Electrical Engineers of Japan. C, A publication of Electronics, Information and System Society  

    電気学会論文誌. C, 電子・情報・システム部門誌 = The transactions of the Institute of Electrical Engineers of Japan. C, A publication of Electronics, Information and System Society 119(1), 105-110, 1999-01-01 

    電気学会

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被引用文献:  1件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002816036
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10065950
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    03854221
  • NDL 記事登録ID
    971425
  • NDL 雑誌分類
    ZN31(科学技術--電気工学・電気機械工業)
  • NDL 請求記号
    Z16-795
  • データ提供元
    CJP書誌  CJP引用  NDL 
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