Review of Scanning Probe Microscope

• Nakane Hideaki

  Muroran Institute of Technology

• Adachi Hiroshi

  Muroran Institute of Technology

Bibliographic Information

Other Title

• 走査型プローブ顕微鏡の現状と将来動向
• ソウサガタ プローブ ケンビキョウ ノ ゲンジョウ ト ショウライ ドウコウ

Abstract

application/pdf

Journal

• IEEJ Transactions on Fundamentals and Materials

  IEEJ Transactions on Fundamentals and Materials 116 (4), 293-296, 1996

  The Institute of Electrical Engineers of Japan

Keywords

• 走査型プローブ顕微鏡
• 走査型トンネル顕微鏡
• 走査型原子間力顕微鏡
• 走査型磁気力顕微鏡
• 走査型近接光顕微鏡

Details

• CRID: 1390282679576660352
• NII Article ID: 10002819229
• NII Article ID: 130006839652
• NII Article ID: 120004681120
• NII Book ID: AN10136312
• DOI: 10.1541/ieejfms1990.116.4_293
• ISSN: 13475533
• ISSN: 03854205
• HANDLE: 10258/1586
• NDL BIB ID: 3947174
• Web Site: https://muroran-it.repo.nii.ac.jp/records/5624
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I3947174
• Web Site: https://www.jstage.jst.go.jp/article/ieejfms1990/116/4/116_4_293/_pdf
• Data Source:
  • JaLC
  • IRDB
  • NDL
  • Crossref
  • CiNii Articles