極浅層反射法における断層解析(その2)

• 南雲 昭三郎

  応用地質株式会社

• 村岡 直

  応用地質株式会社

• 高橋 亨

  応用地質株式会社

書誌事項

タイトル別名

• Fault analysis in the very shallow seismic reflection method(2)

収録刊行物

• 物理探査学会学術講演会講演論文集 = Proceeding of the SEGJ Conference

  物理探査学会学術講演会講演論文集 = Proceeding of the SEGJ Conference 96 121-125, 1997-05

詳細情報

• CRID: 1572261548964291840
• NII論文ID: 10002838505
• NII書誌ID: AN10532932
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • CiNii Articles